芯片设计中使能信号的”二次启动陷阱”

在芯片设计领域，有一个被很多工程师忽视的测试死角——模块使能信号的反复开关测试。这个问题看似简单，实际上埋藏着不少让人头疼的bug。

为什么使能信号这么重要?

现代芯片动辄上亿晶体管，功耗控制是个大问题。几乎所有模块都会配备独立的使能信号线，需要时打开，不需要时关闭，这是低功耗设计的基本操作。但问题就出在这个”开开关关”的过程中。