STDF数据分析终极指南：快速掌握半导体测试数据可视化
【免费下载链接】STDF-ViewerA free GUI tool to visualize STDF (semiconductor Standard Test Data Format) data files.项目地址: https://gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer
在半导体测试领域，STDF（Standard Test Data Format）文件是记录测试结果的核心载体。面对复杂的测试数据和多样的分析需求，STDF-Viewer作为一款免费开源的专业工具，为工程师提供了高效的数据可视化解决方案。无论您是初次接触STDF文件的新手，还是需要深度分析的专业人士，这款工具都能显著提升您的工作效率。
🚀 工具核心优势速览
零成本高性能：完全免费开源，基于Rust核心库实现毫秒级数据处理，支持千万级测试数据点的实时分析。
多格式全兼容：原生支持STDF V4和V4-2007规范，无缝处理ZIP、GZ、BZIP压缩格式，无需解压即可直接分析。
交互式可视化：提供趋势图、直方图、晶圆图等多种图表类型，支持鼠标悬停查看详细数据，让分析过程更加直观。
🔍 五大核心功能深度解析
一键智能合并多个STDF文件
通过工具栏的"合并"功能，可以轻松整合多个测试批次的数据文件。系统自动将同一组内的文件进行合并，并保持原始数据完整性，支持多组数据对比分析。
失效测项精准定位
"标记失效"功能能够智能识别并高亮显示所有存在失效的测项。结合Cpk阈值设置，可进一步标记低过程能力的测试项目，帮助工程师快速聚焦关键问题。
晶圆级缺陷分布分析
当STDF文件包含晶圆测试信息时，晶圆图功能自动启用。通过颜色编码直观展示失效分布，支持多晶圆堆叠对比，为工艺优化提供数据支撑。
测试数据深度统计
每个测项都提供完整的统计信息，包括Cpk、平均值、标准差等关键指标，帮助工程师全面评估测试质量。
专业报告一键生成
支持将分析结果导出为Excel报告，涵盖文件详情、DUT详情、趋势图、直方图等所有可视化内容。
💡 实战应用场景指南
新项目调试阶段：通过趋势图和直方图快速识别测试程序的稳定性，定位异常测试项。
量产监控过程：利用失效标记功能实时监控测试良率，及时发现异常趋势。
多批次对比分析：使用文件合并功能整合不同批次数据，进行良率趋势分析。
📥 快速安装部署流程
使用uv工具（推荐）
uv venv uv sync传统安装方式
pip install -r requirements.txt pip install maturin==1.9.4 cd deps/rust_stdf_helper maturin build -f -r获取项目源码
项目源码位于：https://gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer
🎯 进阶使用技巧分享
高效数据筛选：结合测试选择和站点筛选，快速定位特定条件下的测试数据。
动态图表交互：在趋势图和直方图中使用鼠标悬停功能，查看具体数据点的详细信息。
批量处理技巧：通过拖拽方式同时打开多个STDF文件，提升工作效率。
🌟 总结与展望
STDF-Viewer不仅是一个数据分析工具，更是半导体测试工程师的得力助手。其直观的界面设计、强大的数据处理能力和灵活的导出功能，让复杂的STDF数据分析变得简单高效。
无论您是需要快速查看测试结果，还是进行深度的数据挖掘，STDF-Viewer都能提供专业级的解决方案。立即体验这款工具，开启您的高效半导体测试数据分析之旅！
【免费下载链接】STDF-ViewerA free GUI tool to visualize STDF (semiconductor Standard Test Data Format) data files.项目地址: https://gitcode.com/gh_mirrors/st/STDF-Viewer
创作声明：本文部分内容由AI辅助生成（AIGC），仅供参考
