21、嵌入式软件测试与代码复用的实用指南

嵌入式软件测试与代码复用的实用指南

1. TDD 的优缺点

测试驱动开发（TDD）虽有诸多优势，但也存在一些问题，会对嵌入式软件开发人员产生影响：
- 需要创建模拟对象来模拟硬件访问。
- 开发环境的搭建既耗时又复杂。
- 采用 TDD 思维模式并真正遵循该方法具有一定难度。
- 整个过程会让人感觉非常耗时。

尽管存在这些缺点，开发人员仍可研究 TDD，确定哪些部分最适合他们的可复用固件。

2. 硬件在环测试（HIL）

硬件在环（HIL）测试是在目标微控制器上运行测试用例代码，而非使用模拟软件层来充当硬件。HIL 测试对于验证硬件抽象层（HAL）的硬件访问是否按预期工作，甚至测试系统的所有输出是否符合预期非常有用。

HIL 测试包含多个组件：
-被测设备（DUT）：包含验证系统正常运行所需的关键信息，如微控制器寄存器值、引脚 I/O 状态、通信通道以及来自传感器、执行器等的产品相关信号。开发人员可构建 HIL 测试工具，使其包含能自动采样所需状态的工具。
-调试器：测试控制器使用调试器将应用程序和测试代码加载到目标微控制器上，并通过调试器通信端口控制这些测试。大多数现代调试器可作为虚拟通信端口，开发人员使用少量软件即可创建测试命令控制通道来管理微控制器。
-通信通道：开发人员通常需要一个通信通道与产品进行交互。例如，汽车产品可能需要测试其对 CAN 消息的响应；具有通信端口的设备也需要相应的工具将通信转换为测试脚本可控制的通信端口。
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